進行中 校際選修

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
選課資源

半導體實驗

Semiconductor Laboratory

學期
106-2
學分
2 學分
當期課號
5021
永久課號
IEE5571
開課單位
電子研究所
授課教師
崔秉鉞
類別
選修
上課時間表
週三
5
13:20–14:10
半導體實驗
LAB
2 節連堂
6
14:20–15:10
A
18:30–19:20
半導體實驗
LAB
3 節連堂
B
19:30–20:20
C
20:30–21:20

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

本課程分教室課與實驗課兩部份。教室課講述半導體技術發展、潔淨室環境、實驗室安全、單元製程基本原理、MOS電容與PN接面測量原理等。實驗部份,包括晶片清洗、氧化、微影、蝕刻、擴散、薄膜沉積、MOS電容與PN接面等。內容強調製程實務與學生實際操作,期能使學生了解在潔淨室中工作注意事項、培養正確的安全衛生防護觀念、以及具備半導體單元製程的操作能力。

先修科目

限修過或同時選修半導體元件物理者選修。

教學方式

教室課:講授安全防護觀念、單元製程原理、及實驗注意事項。 實作課:博士班助教帶領,親自動手製作MOS電容及PN接面等基本元件,並進行電性測量。

評分方式

兩次紙筆測驗:各佔25%,共50% 實作課表現:25% 期末報告:25%

週次計畫
週次主題
第 1 週History of Nano Facility Center and Semiconductor Lab.
第 2 週Clean Room Environment
第 3 週Safety Issues (Absence is not allowed. The absentee will be forced to drop this course.)
第 4 週Test on Safety Issues (The one cannot pass this test (<70 pts) will be forced to drop this course.)
第 5 週Clean Process and Experiments
第 6 週Oxidation Process and Experiments
第 7 週Lithography Process and Experiments
第 8 週Etching Process and Experiments
第 9 週Doping Process and Experiments
第 10 週Deposition Process and Experiments
第 11 週Test on Process Modules.
第 12 週MOS Capacitor Measurement and Analysis Techniques
第 13 週MOS Capacitor Measurement and Analysis Techniques
第 14 週PN Junction Measurement and Analysis Techniques
第 15 週PN Junction Measurement and Analysis Techniques
第 16 週Submit Final Report
教科書

使用自編講義。

Office Hours
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時間
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校內分機31570 bytsui@mail.nctu.edu.tw