半導體智慧製造管理
Semiconductor Smart Manufacturing
| 節 | 週四 |
|---|---|
A 18:30–19:20 | 半導體智慧製造管理 MB405 2 節連堂 |
B 19:30–20:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
1.This mission of the course is to acquire knowledge and capabilities in Semiconductor process & intelligent manufacturing information and systems. 2.The strategic objective of Semiconductor Smart Manufacturing is to provide students to learn how to apply artificial intelligence and data science techniques to improve the efficiency of manufacturing systems. The Course include Semiconductor Manufacturing process, Smart Scheduling & Dispatching, Computer Vision for defect detection, Smart Quality Defense & management, Process Optimization, etc. The course integrates the knowledge domains of the intelligent manufacturing System and Statistics and data analysis, and solves the real problem systematically using the design of metaheuristic algorithms and statistics tools.
無
課堂作業,分組研討作業,期中考試,期未考試
- 機器學習
- 智慧排程
- Advanced Material Handling System-AMHS
- 半導體產業專家交流論壇
- 統計製程品質管制
- 失效偵測與分類系統-FDC
- 量測技術
- 機器視覺應用
- 先進製程控程-APC
- 智慧製造概論
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | 半導體製程 |
| 第 2 週 | 機器學習-概論 |
| 第 3 週 | 電腦整合製造技術(CIM) |
| 第 4 週 | 智慧排程(一) |
| 第 5 週 | 智慧排程(二)文獻探討 |
| 第 6 週 | Advanced Material Handling System-AMHS(一) |
| 第 7 週 | Advanced Material Handling System-AMHS(二)文獻探討 |
| 第 8 週 | 期中考試 |
| 第 9 週 | 半導體產業專家交流論壇 |
| 第 10 週 | 失效偵測與分類系統-FDC(一) |
| 第 11 週 | 失效偵測與分類系統-FDC(二)文獻探討 |
| 第 12 週 | 機器視覺應用 |
| 第 13 週 | 量測技術機器+文獻探討 |
| 第 14 週 | 先進製程控程-APC(一) |
| 第 15 週 | 先進製程控程-APC(二)文獻探討 |
| 第 16 週 | 期末考試 |
| 第 17 週 | 半導體製造執行系統(MES) |
| 第 18 週 | 彈性教學週 |
課程講義