精密機械量測
Precision Metrology
| 節 | 週三 |
|---|---|
A 18:30–19:20 | 精密機械量測 EE205 3 節連堂 |
B 19:30–20:20 | |
C 20:30–21:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
精密機械製造由三要素~精細設計、精密製造、精密量測,精良的產品有賴精密加工技術來完成,精密的加工過程與結果則須精密量測來加以印證,尤其是機械組件的配合,進而確認與量化產品的品質。本課程將從介紹機械領域常用到的基本量具和量測儀器(卡尺、分厘卡、塊規、幾何形狀量測儀器、CMM等)開始,包含其原理、使用方法、誤差分析等,也加入常被忽略的儀校與標準追溯概念和SI單位的使用,使同學除了知道正確操作外,也能得到正確且具追溯性之量測數據,更可以將這些概念應用在機械設計上,使其設計可以用有Designed-in的quality。此外也安排了實驗室品質管理、量測不確定度等品質方面的課程,使得同學了解在產品國際化的追求下,計量領域的量測數據如何得到國際相互認可,對於產品的一次檢驗、通行全球等要求能有進一步的認識。
圖學
課堂講授、部份實作、實驗室參觀(視狀況) 等 Reference: http://www.nml.org.tw/ http://www.bipm.org/
作業或實作練習 20% 期中考 30% 期末考 30% 期末報告 20% 以上配分比例將視情況調整
- 精密量測導論
- 端點量具與標準
- 角度量測
- 幾何形狀量測
- 精密量測之誤差分析
- 三維尺寸量測
- 工具機檢測
- 微小尺寸量測
- SI單位介紹及其使用
- 實驗室品質管理系統
- 儀器校正管理
- 量測不確定度
- 量測品質保證方案(MAP)
- 精密量具實作(Option)
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | 課程介紹、精密量測導論 |
| 第 2 週 | SI單位的發展歷程、SI單位的分類 – 基本單位、導出單位、SI字首(Prefix)及其用法、SI與其他單位合用規則 |
| 第 3 週 | 基本端點量具之使用與校正(Gage block、Caliper) |
| 第 4 週 | 基本端點量具之使用與校正(Micrometer、UMM、Dial indicator) |
| 第 5 週 | 基本端點量具之使用與校正(Dial indicator)精密量測之誤差分析(Abbe' principle & amp Abbe' error、Cosine error、Backlash ...) |
| 第 6 週 | 角度量測~角度量具之使用與校正(Small angle generator、Angle block、Polygon、Electronic level) |
| 第 7 週 | 幾何形狀量測之定義與儀器介紹(Straightness & amp Straight edge、Flatness & amp Surface plate) |
| 第 8 週 | 幾何形狀量測之定義與儀器介紹(Roundness) |
| 第 9 週 | 期中考,作業檢討 |
| 第 10 週 | 幾何形狀量測之定義與儀器介紹(Surface topography & amp Roughness) |
| 第 11 週 | 工具機檢測~剛體運動分析、雷射干涉儀、工具機校正 |
| 第 12 週 | 三維尺寸量測~座標量測儀、影像量測儀之原理、使用與校正 |
| 第 13 週 | 微小尺寸量測儀具介紹(LVDT、雷射三角測頭、電容式測頭) |
| 第 14 週 | ISO/IEC 17025:2005簡介、第三者認證及其要求、國際標準之調和與相互認可儀校管理~儀器購置的注意事項、儀器的追溯校正(who? where? how? when?) |
| 第 15 週 | 量測不確定度~量測數據的特性、量測不確定度的意義、誤差、公差與不確定度之差異、校正結果之判定與修正 |
| 第 16 週 | 期末考 |
| 第 17 週 | |
| 第 18 週 |
1. 教師自編教材 2. 精密量測,范光照、張郭益,高立圖書 參考資料.. 1. The International System of Units, 8th ed, BIPM, 2006. (free download) 2. ISO/IEC 17025:2017, General requirements for the competence of testing and calibration laboratories, ISO, 2005. 3. ISO Guide 98-3:2008, Evaluation of measurement data – Guide to the expression of uncertainty in measurement, 2008.(JCGM 100:2008, free download)