元件輻射效應概論
Radiation Effects in Electronics
學期
112-2
學分
3
學分
當期課號
535911
永久課號
STST30036
開課單位
國際半導體產業學院碩士班
授課教師
鍾錦翰
校區
光復
類別
選修
上課時間表
| 節 | 週五 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 元件輻射效應概論 EE116 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
概述
了解輻射在電子元件中所產生的可靠度問題, 提升電子元件於核能設施與宇宙應用的效能 To understand the hazardous effects and reliability issues caused by radiation in electronic devices and how to mitigate them for the applications such as nuclear power facilities and space.
先修科目
基礎物理與半導體元件物理 Fundamental knowledge of physics and electronic devices
評分方式
Midterm exam (open note): 30% Final exam (open note): 40% Case Study: 30%
週次計畫
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | Introduction |
| 第 2 週 | Radiation Basics |
| 第 3 週 | Radiation Basics |
| 第 4 週 | Fundamental of Radiation Effects |
| 第 5 週 | Fundamental of Radiation Effects |
| 第 6 週 | SRIM & TRIM |
| 第 7 週 | SRIM & TRIM |
| 第 8 週 | Midterm |
| 第 9 週 | Total Dose Effects |
| 第 10 週 | Total Dose Effects |
| 第 11 週 | Soft Error |
| 第 12 週 | Soft Error |
| 第 13 週 | Single Event Effect |
| 第 14 週 | Radiation in Space |
| 第 15 週 | Case Study |
| 第 16 週 | Final Exam |
| 第 17 週 | |
| 第 18 週 |
教科書
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, Eishi H. Ibe, Published by Wiley in 2015