電子顯微鏡學
Transmission Electron Microscopy
| 節 | 週五 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 電子顯微鏡學 EF202 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
從電子與固體相互之物理作用等基礎,了解電子顯微鏡影像成像原理、形成 繞射圖型的基礎原理、微區化學組成量測及原子尺度結構分析之原,包括高解析穿透式電子顯微鏡影像、掃描穿透式電子顯微鏡影像。 學習目標: 1. 如何解釋影像對比所代表之意義;2. 如何分析繞射圖形並擷取其中之訊息;3. 如何正確研判X-RAY EDS與EELS之能譜及其定量分析。
普通物理(含原子結構與物理)、材料科學導論、微積分、工程數學(微分方程、傅立葉轉換、向量分析) 需具有晶體結構之基礎(含point group、space group)等 如修習過近代物理或固態物理更佳。
免費軟體 ImageJ (NIH)、VESTA 、DigitalMicrograph (Gatan)、NIST DTSA-II X-ray EDS 模擬軟體 American Mineralogist Crystal Structure Database 付費軟體 CrystalMaker
學期作業(30%)、考試(60%)、評量(比重10%)
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | - INTRODUCTION- ELECTRON SOURCES、 - LENS AND FOCUS |
| 第 2 週 | - ELECTRON SCATTERING, - - SCANNING ELECTRON MICROSCOPY |
| 第 3 週 | - SCANNING ELECTRON MICROSCOPY- TEM MICROSCOPE |
| 第 4 週 | DIFFRACTION |
| 第 5 週 | TEM DIFFRACTION- SELECTED AREA DIFFRACTION |
| 第 6 週 | TEM DIFFRACTION- CONVERGENT BEAM DIFFRACTION- NANOBEAM DIFFRACTION |
| 第 7 週 | - IMAGING THEORY- TEM IMAGING MODE BRIGHT FIELD AND DARK FIELD- MASS-THICKNESS CONTRAST |
| 第 8 週 | DIFFRACTION CONTRAST4/16 期中考 |
| 第 9 週 | DIFFRACTION CONTRAST |
| 第 10 週 | DIFFRACTION CONTRAST- STRAIN |
| 第 11 週 | - PHASE CONTRAST - HIGH-RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY |
| 第 12 週 | - SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY- HIGH-ANGLE ANNULAR DARK FIELD IMAGING Z-CONTRAST |
| 第 13 週 | - X-RAY ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY |
| 第 14 週 | X-RAY ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY |
| 第 15 週 | - X-RAY ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY- ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY |
| 第 16 週 | ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY |
| 第 17 週 | 期末考 |
| 第 18 週 | 作業解答 |
1. Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science Authors: Williams, David B., Carter, C. Barry Springer 2009 2. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis Fourth Edition Authors: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Springer 2018
- 地點
- 工程六館327室
- 時間
- 每星期三 下午4:30-5:10
- 聯絡方式