元件電路計測實驗
Device and Circuit Characterization Laboratory
學期
113-1
學分
3
學分
當期課號
535206
永久課號
EEIE30004
開課單位
電子研究所
授課教師
吳添立、郭治群
類別
選修
上課時間表
| 節 | 週四 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 元件電路計測實驗 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
概述
1. 了解各種精密阻抗、電壓、電容、電流測量儀器之原理,以及經由實習課程培訓測量儀器之操作與 數據分析。 2. 了解基本半導體元件特性以及物理參數之測量原理與擷取方法。
教學方式
1. 每週兩小時教室課,解說參數擷取原理以及測試結構。 2. 每週兩小時實作教學,由助教示範儀器操作,之後個別找時間練習。 3. 限額40人,優先順序為:電研所學生、電機系學生、電研所甄試錄取生、電機學院學生、本校研究生、本校研究所甄試錄取生、外校學生。 TA : 禚鎮毅/ vincent89121.ee07@nycu.edu.tw
評分方式
期中考與期末考: 30% 儀器操作測驗(3次) : 40% 單元實驗報告,一組一份 : 30%
週次計畫
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | Introduction |
| 第 2 週 | Low Level measurement / Probe station setup |
| 第 3 週 | Sheet resistance & Contact Resistance / Agilent B1500A |
| 第 4 週 | GPIB operation & Program control / LabVIEW 實作 |
| 第 5 週 | Schottky junction & pn junction / Agilent B1500A |
| 第 6 週 | Holiday |
| 第 7 週 | 筆試 / 1st operation examination |
| 第 8 週 | MOS capacitor characterization / Agilent B1500A (CMU) |
| 第 9 週 | Independent practice |
| 第 10 週 | MOSFET characterization & Mobility extraction / Agilent B1500A (CMU) |
| 第 11 週 | External resistance extraction / Agilent B1500A |
| 第 12 週 | Interface state extraction – CV method / Agilent B1500A (CMU) |
| 第 13 週 | 2nd operation examination |
| 第 14 週 | Interface state extraction – Conductance method / Agilent B1500A (CMU) |
| 第 15 週 | Interface state extraction – Charge pumping method / Agilent 81110 & Agilent B1500A |
| 第 16 週 | 筆試/ 3rd operation exam |
教科書
1. 上課講義 2. Semiconductor Material and Device Characterization
Office Hours
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