掃描探針技術導論
Int. to Scanning Probe Techniques
學期
113-2
學分
3
學分
當期課號
536118
永久課號
ENME30016
開課單位
機械工程學系
授課教師
洪紹剛
校區
光復
類別
選修
上課時間表
| 節 | 週三 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 掃描探針技術導論 EE205 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
概述
Introduction of SPM in an engineering view point
先修科目
General Physics - required
教學方式
https://sites.google.com/nycu.edu.tw/skhung
評分方式
Grading: Participation: 10% Homework: 20% Midterm exam: 30% Final report: 40% 不接受任何理由要求加分, 包含個人身心健康因素, 家庭因素, 年級與畢業年限因素等等任何理由。
課程大綱
- History of SPM
- Fundamentals and applications of SPM
- Piezoelectricity
- Nano-positioner
- Precision stepping mechanisms
- Instrumental amplifier
- Modulation/demodulation
- Profilometer
- Novel developments of SPM
週次計畫
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | History of SPM |
| 第 2 週 | Fundamentals and applications of SPM |
| 第 3 週 | Piezoelectricity |
| 第 4 週 | Piezoelectricity |
| 第 5 週 | Nano-positioner |
| 第 6 週 | Nano-positioner |
| 第 7 週 | Precision stepping mechanisms |
| 第 8 週 | Precision stepping mechanisms |
| 第 9 週 | midterm exam |
| 第 10 週 | Instrumental amplifier |
| 第 11 週 | Modulation/demodulation |
| 第 12 週 | Modulation/demodulation |
| 第 13 週 | Profilometer |
| 第 14 週 | Profilometer |
| 第 15 週 | Novel developments of SPM |
| 第 16 週 | Final project presentation |
| 第 17 週 | Final project presentation |
| 第 18 週 |
教科書
no textbook
Office Hours
- 地點
- EE476
- 聯絡方式
- skhung@nycu.edu.tw